基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
推荐文章
如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
硬件
软件
结果分析
管理
CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
集成电路技术的发展趋势研究
集成电路技术
CMOS器件
系统集成芯片
工业控制
集成电路封装技术可靠性探讨
集成电路
封装材料
封装形式
可靠性
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 集成电路IR4007
来源期刊 电源技术应用 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2000,(12) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 45
页数 1页 分类号 TM
字数 语种
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2000(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电源技术应用
月刊
0219-2713
大16开
西安市科技路37号海星城市广场B座24层
1998
chi
出版文献量(篇)
6708
总下载数(次)
26
总被引数(次)
11064
论文1v1指导