高热可靠性电子器件热变形模拟

• 作者: 李海元 栗保明
• 来源期刊: 弹道学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电子器件 热变形 热可靠性 有限元
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 58-62
• 页数: 5页
• 分类号: O315|TJ012
• 字数: 2823字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-499X.2000.04.012

摘要

电子器件热变形的模拟对于提高器件的热可靠性有着重要意义.以一种可靠性要求很高的电子器件--火箭点火用固态继电器作为研究对象,采用三维有限元程序对固体继电器工作时内部的热变形进行计算和分析,所得到的计算结果与热变形实验测试结果一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	栗保明	南京理工大学弹道国防科技重点实验室	143	825	14.0	19.0
2	李海元	南京理工大学弹道国防科技重点实验室	25	146	7.0	10.0