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砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究
微波单片集成电路
可靠性预计
寿命试验
GaAs微波单片集成电路的主要失效模式及机理
砷化镓
微波单片集成电路
失效模式
退化机理
大规模集成电路测试程序质量控制方法研究
集成电路
集成电路测试程序
开发过程
影响要素
评审
大规模集成电路的高低温测试技术
高低温测试
热流系统
温度建立时间
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 最新三洋大规模单片集成电路
来源期刊 电视机维修 学科 工学
关键词 单片集成电路 大规模集成电路 电视机 芯片
年,卷(期) 2000,(S01) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 10-11
页数 2页 分类号 TN43
字数 语种
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研究主题发展历程
节点文献
单片集成电路
大规模集成电路
电视机
芯片
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电视机
月刊
北京东燕郊218信箱
出版文献量(篇)
1365
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