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摘要:
指出了半导体器件中存在的噪声及其特点,并针对当今数字VLSI(VeryLarge Seale Integrated—超大规模集成)电路的特点,通过计算,分析和讨论了各种噪声对数字VLSI电路造成的影响.特别指出了随着现代数字VLSI电路的元器件几何尺寸进一步缩小,其内部噪声的影响趋于显著.
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文献信息
篇名 数字超大规模集成电路中的噪声分析与研究
来源期刊 山东工业大学学报 学科 工学
关键词 超大规模集成电路 白噪声 /热噪声 散粒噪声 g-r噪声 1/f噪声
年,卷(期) 2000,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 367-372
页数 6页 分类号 TN47
字数 3623字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-3961.2000.04.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈江华 山东工业大学电子工程系 3 36 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
超大规模集成电路
白噪声
/热噪声
散粒噪声
g-r噪声
1/f噪声
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
山东大学学报(工学版)
双月刊
1672-3961
37-1391/T
大16开
济南市经十路17923号
24-221
1956
chi
出版文献量(篇)
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