基于可靠性及噪声约束的电源／ 地线优化设计

• 作者: 庄昌文 李春辉 范明钰 虞厥邦 黄劲
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 优化设计 电源线/地线 可靠性 噪声约束
• 年，卷（期）: 2000,（8）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 816-821
• 分类号: TN764
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2000.08.016

摘要

电源/地线(P/G)拓扑结构的优化设计是超大规模集成电路(VLSl)中直接影响芯片性能的一个非常重要的问题.通过对考虑可靠性及噪声的各项约束条件的分析,提出了一种时间复杂度为O(N2m)基于最小代价生成树(MST)和改进的Prim算法的快速构造算法.实验结果表明,该算法在满足同样的性能约束条件下能有效地减小布线面积.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	虞厥邦	电子科技大学光电子技术系	80	683	14.0	22.0
2	范明钰	电子科技大学光电子技术系	100	1008	17.0	27.0
3	庄昌文	电子科技大学光电子技术系	6	35	3.0	5.0
4	李春辉	电子科技大学光电子技术系	5	38	3.0	5.0