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摘要:
系统研究了a-SiOx的Raman散射谱及其退火行为,并通过退火技术使Si从SiOx网络中分凝出来,形成纳米硅和SiO2的镶嵌结构.并利用Raman散射技术研究了这种复合薄膜中纳米硅的声子态.发现在100~600cm-1的波数范围内,纳米硅的Raman谱可用5条Lorentz线得到很好地拟合,并对这5条线的来源作了确认;观测到了在600~1100 cm-1范围内纳米硅的双声子散射.研究结果表明,镶嵌在SiO2介质中的纳米硅具有非晶硅相和纳米硅晶相共存的特点,两者均对Raman散射有贡献.不仅观测到了声子限制效应使一级光学声子频率随纳米硅晶粒尺寸减小而红移这一现象,而且还发现(与体硅相比)声子限制效应对二级Raman散射具有增强效应,并对二级散射模的频率也会产生影响.
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文献信息
篇名 镶嵌在氧化硅薄膜中纳米硅的Raman散射研究
来源期刊 中国科学(A辑) 学科 化学
关键词 纳米硅 声子限制效应 Raman散射
年,卷(期) 2000,(2) 所属期刊栏目 物理学
研究方向 页码范围 169-175
页数 7页 分类号 O6
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1006-9232.2000.02.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 褚君浩 中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室 103 650 13.0 22.0
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研究主题发展历程
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纳米硅
声子限制效应
Raman散射
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中国科学(数学)
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1674-7216
11-5836/O1
北京东黄城根北街16号
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