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系统单芯片测试之趋势及未来挑战
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摘要：
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工业以太网芯片单粒子实验测试系统研制
单粒子
以太网芯片
测试系统
基于片上网络的系统芯片测试研究
系统芯片测试
片上网络
协议堆栈
测试服务
模块化测试
SpaceWire系统芯片测试技术
系统芯片
结构特点
主要参数
自动测试系统
协议功能测试
国产芯片自动测试系统射频测试模块设计
射频芯片自动测试系统
矢量信号生成和分析
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期刊影响力
集成电路应用
主办单位：
上海贝岭股份有限公司
出版周期：
月刊
ISSN：
1674-2583
CN：
31-1325/TN
开本：
16开
出版地：
上海宜山路810号
邮发代号：
创刊时间：
1984
语种：
chi
出版文献量（篇）
4823
总下载数（次）
15
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