一个集成电路可测性设计辅助软件--ASIC2000TA

• 作者: 时龙兴 杨军 王佩宁 胡晨 许舸夫
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 可测性设计 扫描设计 故障模拟
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 194-198
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2789字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2001.03.006

摘要

随着集成电路工艺复杂性和规模复杂度的提高,芯片测试变得越来越困难,而可测性设计可以用来简化测试,降低测试成本.但是可测性设计将加大设计的难度,必须通过可测性设计自动化来降低其难度,我们在九五国家攻关计划的支持下完成了一个集成电路可测性设计的辅助软件--AISC2000TA,通过大量的实例分析证明该软件具有一定的实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学电子工程系	210	2336	24.0	38.0
2	胡晨	东南大学电子工程系	72	709	14.0	24.0
3	时龙兴	东南大学电子工程系	61	457	11.0	18.0
4	许舸夫	东南大学电子工程系	5	36	3.0	5.0
5	王佩宁	东南大学电子工程系	2	11	2.0	2.0