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全电流模型的比例差分特性
全电流模型的比例差分特性
作者:
杨存宇
许铭真
谭长华
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
比例差分算符
Pao-Sah双积分模型
谱峰
摘要:
用比例差分算符(PDO)方法研究了长沟MOSFET在各个工作区域(亚阈区和饱和区)的比例差分特性.利用PDO方法研究全电流Pao-Sah双积分模型,结果发现源漏电流的比例差分特性在所有的工作区域内都有谱峰特性,其峰值和峰位与MOSFET的电学参数(如有效迁移率、热电势和阈值电压等)直接相关.利用PDO方法可以避免冗繁地计算双积分公式,并可以容易地提取出重要的MOSFET电学参数.
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文献信息
篇名
全电流模型的比例差分特性
来源期刊
半导体学报
学科
工学
关键词
比例差分算符
Pao-Sah双积分模型
谱峰
年,卷(期)
2001,(3)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
322-328
页数
7页
分类号
TN386.1
字数
4292字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0253-4177.2001.03.016
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
谭长华
北京大学微电子所
48
99
5.0
7.0
2
许铭真
北京大学微电子所
52
102
5.0
7.0
3
杨存宇
北京大学微电子所
2
0
0.0
0.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
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引文网络
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二级参考文献
(0)
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(1)
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同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
1983(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2001(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
比例差分算符
Pao-Sah双积分模型
谱峰
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
主办单位:
中国电子学会和中国科学院半导体研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-4926
CN:
11-5781/TN
开本:
大16开
出版地:
北京912信箱
邮发代号:
2-184
创刊时间:
1980
语种:
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
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