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如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
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CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
集成电路技术的发展趋势研究
集成电路技术
CMOS器件
系统集成芯片
工业控制
集成电路封装技术可靠性探讨
集成电路
封装材料
封装形式
可靠性
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 集成电路无工厂公司--Fabless前途似锦
来源期刊 世界电子元器件 学科
关键词
年,卷(期) 2001,(9) 所属期刊栏目 市场观象
研究方向 页码范围 58-59
页数 2页 分类号
字数 2027字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-7604.2001.09.025
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
世界电子元器件
月刊
1006-7604
11-3540/TN
16开
北京市北四环西路67号大地科技大厦1201-1218
82-796
1995
chi
出版文献量(篇)
5855
总下载数(次)
6
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