高性能集成电路在片ESD保护设计与评价

• 作者: 于宗光
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 静电泄漏 集成电路 ESD HDM MM CDM
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 设计与制造
• 页码范围: 34-44
• 页数: 11页
• 分类号: TN305
• 字数: 7423字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2002.03.012

摘要

本文详细介绍了在片静电泄漏(ESD)保护设计的各种技术,包括ESD测试模式,ESD失效机理,ESD保护结构,ESD器件模拟,ESD模拟,ESD版图设计,ESD与内部电路的接口等,并给出了ESD设计检查清单.