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摘要:
SnO2薄膜的成膜机制是研究其结构的一项重要内容,本文就射频反应溅射成膜过程中影响成膜质量的因素进行了讨论,给出了薄膜形成过程的初步模型,分析了影响薄膜成长和特性的因素.
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文献信息
篇名 射频反应溅射制备SnO2薄膜机理研究
来源期刊 北京建筑工程学院学报 学科 物理学
关键词 SnO2薄膜 射频 薄膜机理
年,卷(期) 2003,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 72-76
页数 5页 分类号 O484:TG113.22
字数 3443字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-6011.2003.01.017
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研究主题发展历程
节点文献
SnO2薄膜
射频
薄膜机理
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
北京建筑大学学报
季刊
1004-6011
10-1250/TU
16开
北京西城区展览路一号
1985
chi
出版文献量(篇)
1636
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5
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10163
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