作者:
原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
对4种模塑封装材料、两种芯片涂层材料封装的微电路样品在西沙天然暴露站进行了22个月的贮存试验,并设计制作了一种简便有效的测试系统.贮存试验的结果表明,在芯片上加氮化硅钝化层比不加钝化层具有更好的防护效果;与聚酰亚胺胶内涂层相比,硅酮胶内涂层更能有效地阻止水分到达芯片的表面;由于树料本身的差异,不同厂家生产的模塑封装材料对微电路的影响也不同.
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文献信息
篇名 电子塑封材料南海环境贮存试验研究
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 塑封材料 贮存试验 环境试验 南海环境
年,卷(期) 2003,(2) 所属期刊栏目 可靠性与环境试验技术及评价
研究方向 页码范围 8-12
页数 5页 分类号 TN305.94|TN306
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.02.002
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作者信息
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1 张铮 6 10 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
塑封材料
贮存试验
环境试验
南海环境
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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