一个专用芯片的边界扫描测试

• 作者: 杨松 石广源
• 来源期刊: 辽宁大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 测试 JTAG
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 32-35
• 页数: 4页
• 分类号: TN492
• 字数: 2476字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5846.2003.01.009

摘要

JTAG边界扫描测试方法是电路芯片和电子系统功能测试一种新方法,正在得到越来越广泛的应用.通过一个具体专用芯片的边界扫描测试的实现来介绍测试方法的基本原理,测试系统的硬件结构以及测试程序的编译方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石广源	辽宁大学物理系	39	119	6.0	8.0
2	杨松	辽宁大学物理系	63	259	10.0	13.0