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摘要:
该文主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析.为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTEST(爱德万测试)SOC测试系统上实现的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD),以及超高速任意波形发生器(GSAWG)的结构和新近采用的技术.另外,这里也列举了关于利用这些技术进行测试的例子.
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文献信息
篇名 通信类SOC测试方案-ONE-CHIP
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词 高速高精度 波形数字转换器 超高速 芯片测试 无线通信 测试方案 任意波形发生器 调制信号 通信类 测试系统
年,卷(期) 2003,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 36-38
页数 3页 分类号 TN407
字数 语种 中文
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
高速高精度
波形数字转换器
超高速
芯片测试
无线通信
测试方案
任意波形发生器
调制信号
通信类
测试系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
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15
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