大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现

• 作者: 冉立新
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 老化测试 可编程ASIC
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 字数: 3001字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2003.01.007

摘要

图形发生系统是大规模集成电路高温动态老化测试的核心子系统.在此,采用可编程ASIC技术成功实现了这一系统.在体系结构及性能指标方面做了很大改进的同时,极大地减小了系统的PCB尺寸,首次实现了嵌入方式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冉立新	浙江大学信息与电子工程学系	25	292	10.0	16.0