集成电路r瞬时辐照试验的原理及方法

• 作者: 吴琬光
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 集成电路 射线辐照 试验
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 试验与可靠性
• 页码范围: 88,101
• 页数: 2页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.06.026

摘要

本文重点介绍集成路r瞬时辐射照试验的原理及方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴琬光		1	0	0.0	0.0