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摘要:
分别使用准Fermi能级和pn结模型决定VCSEL的有源层压降,建立了两种自洽确定VCSEL中电势及载流子分布的方法.针对电极电压变化和氧化层限制孔径变化的两种情况,在阈值附近对器件中的结电压分布、载流子浓度分布和注入有源层电流密度分布进行了计算;针对两者所得结果的差异进行了简要的分析,指出了二者的特点及适用范围.
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文献信息
篇名 确定VCSEL电势及载流子自洽分布算法的研究
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 准Fermi能级 pn结模型 VCSEL
年,卷(期) 2003,(10) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 1093-1098
页数 6页 分类号 TN36
字数 4737字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2003.10.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵鼎 中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室 27 129 7.0 10.0
2 林世鸣 中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室 15 49 5.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
准Fermi能级
pn结模型
VCSEL
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
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