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摘要:
本文首先介绍了上海华虹集成电路公司专利工作开展的历史背景;然后介绍了通过专利地图进行技术跟踪的相关知识;还介绍了专利鉴价的相关指标;最后探讨了全方位专利管理的思想.
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文献信息
篇名 上海华虹集成电路公司的专利工作探索
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词 专利 专利鉴价 管理
年,卷(期) 2004,(9) 所属期刊栏目 企业之窗
研究方向 页码范围 76-79
页数 4页 分类号 TN4
字数 4747字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-2583.2004.09.021
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
专利
专利鉴价
管理
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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