原文服务方: 电子质量       
摘要:
PDP扫描驱动芯片完成高低压转换和功率输出,要求器件耐压170v.本文基于BCD工艺,提出了高压器件VDMOS的结构,采用了不附加工艺的场板和场限环两种终端结构提高器件耐压,并利用器件模拟软件MEDICI进行了仿真验证,得到了优化的器件结构参数.
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文献信息
篇名 PDP扫描驱动芯片中高压VDMOS器件的设计
来源期刊 电子质量 学科
关键词 PDP扫描驱动芯片 VDMOSFET 场板 场限环 MEDICI
年,卷(期) 2004,(10) 所属期刊栏目 IC工程
研究方向 页码范围 56-58
页数 3页 分类号 TN403
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2004.10.027
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 庄奕琪 西安电子科技大学微电子所 183 1168 15.0 22.0
2 李小明 西安电子科技大学微电子所 19 123 6.0 10.0
3 张丽 西安电子科技大学微电子所 25 178 9.0 12.0
4 姜法明 西安电子科技大学微电子所 3 20 2.0 3.0
传播情况
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2004(0)
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2008(2)
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研究主题发展历程
节点文献
PDP扫描驱动芯片
VDMOSFET
场板
场限环
MEDICI
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
论文1v1指导