集成电路分档成品率的效益优化模型及求解

• 作者: 荆明娥 赵天绪 郝跃 马佩军
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 综合评价方法 分层成品率 优化模型 可设计域 均匀设计
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 170-173
• 页数: 4页
• 分类号: TN43
• 字数: 3443字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2004.02.002

摘要

基于对集成电路分层成品率综合效益的考虑,提出了一种新型的效益优化模型.该模型根据客户对产品性能的要求构造了一个综合性能指标函数,把电路的可设计参数、产品分几档、如何分档作为设计参数来建立模型.针对此模型设计了一种算法,这种算法结合有效的抽样技术,在可设计域内均匀抽样,以获得最佳设计值.实验结果表明,通过适当的分档和定价会使集成电路分层成品率效益获得最大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝跃	西安电子科技大学微电子研究所	312	1866	17.0	25.0
2	马佩军	西安电子科技大学微电子研究所	34	163	8.0	10.0
3	赵天绪	西安电子科技大学微电子研究所	23	88	6.0	8.0
4	荆明娥	西安电子科技大学微电子研究所	10	44	4.0	6.0