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摘要:
本文给出了提拉单晶硅时,勾形磁场强度的计算公式,并对单晶硅在有无勾形磁场情况下熔体内流场和氧的浓度分布进行了数值模拟,计算出磁场作用下磁场强度和洛伦兹力及有无磁场时流函数、垂直截面处的速度场和氧的浓度分布.通过分析表明,勾形磁场能使流动更为平稳,能有效地降低熔体内及生长界面氧的浓度,并对产生这一现象的机理作了理论分析.
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文献信息
篇名 勾形磁场下提拉法生产单晶硅的数值模拟
来源期刊 人工晶体学报 学科 物理学
关键词 提拉法 勾形磁场 单晶硅
年,卷(期) 2004,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 217-222
页数 6页 分类号 O78
字数 4091字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-985X.2004.02.021
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 隋允康 北京工业大学机电学院 183 2359 26.0 41.0
2 宇慧平 北京工业大学机电学院 38 239 9.0 13.0
3 张峰翊 6 72 4.0 6.0
4 王学锋 4 63 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
提拉法
勾形磁场
单晶硅
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
总下载数(次)
16
总被引数(次)
38029
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