氧化膜形貌对铝电解电容器寿命的影响

• 作者: 宋晔 朱绪飞 陈卫东 顾义明 魏纯香
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元件技术 化成铝箔 SEM EDS 氧化膜 铝电解电容器 比容 漏电流
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 51-53
• 页数: 3页
• 分类号: TM535
• 字数: 3265字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2004.08.017

摘要

对三种高压阳极化成铝箔进行了SEM的形貌和EDS组分分析,用三种铝箔分别制成400V,6 800μF电容器并进行了耐久性试验对比,对电容器性能和阳极化成铝箔氧化膜形貌之间的关系进行了探讨.结果表明:隧道腐蚀铝箔的氧化膜残存的杂质离子多,容易击穿;氧化膜表面过多的羟基对电容器的漏电流影响很大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱绪飞	南京理工大学化工学院	61	422	12.0	17.0
2	宋晔	南京理工大学化工学院	39	467	11.0	20.0
3	魏纯香	南京理工大学化工学院	3	6	1.0	2.0
4	顾义明		2	34	2.0	2.0
5	陈卫东		1	6	1.0	1.0