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摘要:
研制了一种GaN p-i-n型单元器件,详细地讨论了该器件的制备工艺,并对该器件进行了光电性能测试.测试结果表明,器件的正向开启电压在2 V左右,零偏动态电阻R0约为1010~1011 Ω,最大峰值响应率在365 nm处为0.18~0.21 A/W,器件的上升响应时间和下降时间分别为2.8和13.4 ns.
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文献信息
篇名 GaN p-i-n紫外探测器的研制
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 紫外探测器 氮化镓 刻蚀
年,卷(期) 2005,(6) 所属期刊栏目 光电器件
研究方向 页码范围 491-493,498
页数 4页 分类号 TN364.2
字数 2136字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2005.06.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李雪 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 64 465 12.0 19.0
2 陈江峰 上海交通大学微电子学院 64 1561 23.0 37.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
紫外探测器
氮化镓
刻蚀
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
总下载数(次)
22
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