BP神经网络在元器件非工作可靠性参数预测中的应用

• 作者: 吴福根 李坤兰 杨少华 黄瑞毅
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 非工作可靠性 预测 神经网络
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 7-9
• 页数: 3页
• 分类号: TP301.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.05.002

摘要

应用神经网络模型对某电子元器件在非工作状态时的可靠性性能参数时间序列进行预测,并与自回归模型预测结果进行了比较.检验结果表明,神经网络预测模型有较高的精度,具有很好的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴福根		85	662	14.0	22.0
2	杨少华		16	439	9.0	16.0
3	黄瑞毅		7	134	6.0	7.0
4	李坤兰		5	34	3.0	5.0