BP神经网络在元器件贮存可靠性参数预测中的应用

• 作者: 于乐 王焱 胡丽芳 陈海建
• 来源期刊: 海军航空工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 元器件 贮存可靠性 BP神经网络 预测
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 页码范围: 224-226,233
• 页数: 4页
• 分类号: TB11
• 字数: 1800字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1522.2008.02.027

摘要

元器件贮存可靠性受多个非线性因素的影响.时间序列预测实质是实现一个非线性映射.应用BP神经网络模型对某元器件贮存可靠性性能参数时间序列进行了预测,仿真表明BP神经网络预测模型有较高的精度.