德州仪器计划采用65nm工艺

• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 德州仪器 65nm工艺 制造工艺技术 新工艺技术 2005年 晶体管 数字功能 片上系统 正常使用 SRAM 无线产品 半导体 一季度 阵列
• 年，卷（期）: 2005,（3）
• 页码范围: 46
• 页数: 1页
• 分类号: TN911.72

摘要

德州仪器日前宣布了65nm半导体制造工艺技术的详细信息，与90nm技术相比，采用该技术可将晶体管体积缩小一半，性能提高40％，不仅可将空闲晶体管的功耗降低100倍，而且可同时集成数亿个晶体管，以支持片上系统(SoC)的模拟与数字功能。目前，4MB SRAM内存测试阵列已经投入正常使用，计划于2005年第一季度推出采用新工艺技术构建的无线产品样品。