TiO2压敏电阻表面层的测定与分析

• 作者: 严继康 姬荣斌 季惠明 张小文 甘国友
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电子技术 二氧化钛 压敏电阻 表面效应 缺陷反应 扩散
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 41-43
• 页数: 3页
• 分类号: TN379
• 字数: 2686字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2006.10.012

摘要

采用电子陶瓷工艺制备了(Nb, La)掺杂的TiO2压敏电阻.用电子探针微区成分分析方法测定了样品中氧含量随深度的变化关系.结果表明,样品表面处氧的含量高于理论值,内部低于理论值,表面"氧化层"的厚度约为20 μm.利用缺陷反应和扩散原理对表面层效应进行了初步分析,指出表面层效应的研究对改善和调节材料的电学性能具有重要的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	季惠明	天津大学材料科学与工程学院	41	253	9.0	12.0
2	甘国友	昆明理工大学材料与冶金工程学院	124	989	17.0	25.0
3	严继康	昆明理工大学材料与冶金工程学院	102	679	13.0	21.0
4	姬荣斌		50	200	7.0	10.0
5	张小文		12	125	7.0	11.0