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摘要:
通过PECVD法制备了纳米硅薄膜(nc-Si:H),采用Raman散射谱,AFM对样品的结构和形貌进行了测试,并测试了样品的室温电导率.结果表明:制备出的纳米硅薄膜,其电导率达到4.9 S·cm-1.另外制备了本征nc-Si:H膜作缓冲层,结构为ITO/n+-nc-Si:H/I-nc-Si:H/p-c-Si/Ag的PIN型太阳能电池,其Voc达到534.7 mV,Isc达到49.24 mA(3 cm2),填充因子FF为0.422 8.
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文献信息
篇名 高电导本征纳米硅膜及其缓冲层太阳能电池
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 无机非金属材料 纳米硅 电导率 PECVD 薄膜 太阳能电池
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 47-49
页数 3页 分类号 TM914.4
字数 2469字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2006.04.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王天民 北京航空航天大学理学院凝聚态物理与材料物理研究中心 140 1545 22.0 32.0
2 李国华 中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室 25 99 5.0 9.0
3 崔敏 北京航空航天大学理学院凝聚态物理与材料物理研究中心 10 72 4.0 8.0
4 张维佳 北京航空航天大学理学院凝聚态物理与材料物理研究中心 18 162 8.0 12.0
5 吴小文 北京航空航天大学理学院凝聚态物理与材料物理研究中心 7 60 4.0 7.0
6 钟立志 北京航空航天大学理学院凝聚态物理与材料物理研究中心 6 57 4.0 6.0
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薄膜
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电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
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