弛豫时间对双势垒结构电子输运性质的影响

• 作者: 倪军 戴振宏
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 非平衡 Wigner函数 电子输运
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 604-608
• 页数: 5页
• 分类号: TN30
• 字数: 745字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.04.005

摘要

利用对双势垒器件非平衡态电子输运性质的含时动力学模拟计算,分析了弛豫时间对这类低维器件电子输运特性的影响.结果表明,由于电子-声子、电子-杂质和电子-缺陷等相互作用导致的弛豫时间对器件Ⅰ-Ⅴ曲线产生很大的影响,即电流滞后类平台结构的倾斜度以及电流滞后区的宽度.