半导体开关与RF MEMS开关性能分析与比较

• 作者: 冯永生 刘元安 南敬昌
• 来源期刊: 辽宁工程技术大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: RF MEMS开关 PIN开关 MESFET开关 品质因数 性能比较
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 电气工程与计算机技术
• 页码范围: 574-577
• 页数: 4页
• 分类号: TN61|TN385
• 字数: 438字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0562.2006.04.028

摘要

为找出影响微波开关性能的参数及其开关的发展方向,从物理机理上分析和比较了半导体开关和RFMEMS(射频微电机械)开关的性能.提出了微波串联开关的理想模型,定义了开关的品质因数,应用器件物理理论和电容公式推出了半导体开关和MEMS开关的品质因数表达式,分析出影响开关性能的参数,提出改善的方法.通过相关权威测试的品质因数得出: RF MEMS开关比半导体开关具有更优的性能,与理论分析相一致.通过开关的性能比较,明确RF MEMS开关可广泛地应用到射频微波电路中, 有好发展前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘元安	北京邮电大学电信工程学院	192	1285	17.0	26.0
2	南敬昌	北京邮电大学电信工程学院	9	117	7.0	9.0
6	冯永生	北京邮电大学电信工程学院	7	39	3.0	6.0