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嵌入式系统中存储器性能研究
嵌入式系统
动态随机存储器
故障检测
失效模型
嵌入式存储器的内建自修复设计
嵌入式存储器
内建自测试
内建自修复
嵌入式存储器内建自测试方法
嵌入式存储器
存储器内建自测试
March算法
FPGA中嵌入式存储器模块的设计
嵌入式存储器
静态随机存储器
FPGA
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文献信息
篇名 TPS79918 RF LDO可支持向StrataFlash(R)嵌入式存储器(P30)的升级
来源期刊 电子产品世界 学科
关键词
年,卷(期) 2006,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 插1-插2
页数 2页 分类号
字数 1649字 语种 中文
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电子产品世界
月刊
1005-5517
11-3374/TN
大16开
北京市复兴路15号138室
82-552
1993
chi
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11765
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