基于遗传排序的测试集优化

• 作者: 乔家庆 付平 尹洪涛
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 测试集优化 遗传算法 行列消去法
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 2335-2338
• 页数: 4页
• 分类号: TP18
• 字数: 4206字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2007.12.020

摘要

测试集优化是数字电路测试的一个基本问题.本文提出了一种基于遗传排序的测试集优化方法,采用遗传算法对测试集的"矢量-故障"矩阵的行向量排列顺序进行优化,并采用行列消去法作为适应度评估方法.实验结果表明,基于遗传排序的测试集优化方法有效地减少了测试矢量的数目,而且保证了所得的测试集中不包含冗余测试矢量.