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GaAs MMIC可靠性研究与进展
砷化镓器件
单片微波集成电路
可靠性
失效
GaAs器件寿命试验及其方法比较
GaAs
可靠性
加速寿命试验
寿命评估
GaAs非本征吸收
非本征吸收
光生载流子
光激发
俘获效应
GaAs材料测温系统的研制
GaAs材料
温度传感器
透过率
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 GaAs高温工作可靠
来源期刊 半导体信息 学科 工学
关键词 高温工作 MESFET 灾变失效 寿命试验 失效机理 半导体器件 肖特基接触 失效率 欧姆接触 激活能
年,卷(期) bdtxx,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 18-19
页数 2页 分类号 TN386
字数 语种
DOI
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引文网络
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2007(0)
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研究主题发展历程
节点文献
高温工作
MESFET
灾变失效
寿命试验
失效机理
半导体器件
肖特基接触
失效率
欧姆接触
激活能
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体信息
双月刊
16开
南京市1601信箱43分箱(南京市中山东
1990
chi
出版文献量(篇)
5953
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11
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