基于ATE的FPGA测试方法

• 作者: 吉国凡 杨嵩 赵智昊
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 测试 CLB 配置
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TM93
• 字数: 1903字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2007.12.013

摘要

本文以Xilinx公司基于SRAM的FPGA XC4010为研究对象,将FPGA配置成两种电路来完成对可编程逻辑模块(CLB)的测试,并阐述了如何在Teradyne商用ATE(Automatic Test Equipment)J750上实现FPGA的在线配置及测试,为FPGA面向应用的测试提供一种有效的方法.