FPGA测试技术及ATE实现

• 作者: 王子云 龙祖利
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 现场可编程门阵列(FPGA) 多逻辑单元(CLB) 测试 自动测试系统
• 年，卷（期）: 2011,（6）
• 所属期刊栏目: 研发、设计、测试
• 页码范围: 65-67
• 分类号: TP302
• 字数: 2935字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2011.06.019

摘要

随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要.介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统(ATE)上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试,为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙祖利		17	106	5.0	10.0
2	王子云	中国工程物理研究院电子工程研究所	2	18	1.0	2.0