基于 ATE 的 FPGA 器件测试方案研究磁

• 作者: 焦亚涛 石雪梅 顾颖
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 重配置 自动配置
• 年，卷（期）: 2015,（1）
• 所属期刊栏目: 测试原理与技术
• 页码范围: 80-82
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2089字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.021

摘要

在 FPGA 器件的测试领域，由于通用 ATE 的局限性，需要为 ATE 设计 FPGA 配置板。然而目前行业内通用的配置方案测试效率低、可移植性差，给 FPGA 器件测试程序的开发和测试都带来了很多不便。论文提出了一种新的 FP‐GA 多重自动配置技术，设计采用 FPGA 作为主控制器，大容量 FLASH 芯片用于存储目标 FPGA 的配置数据，具有大量存储、调取灵活、配置快速等优点，实现了 Xilinx 公司绝大部分不同型号的 FPGA 器件的多重、自动、快速重配置，有效地解决了原配置方案的弊端，提高了 FPGA 测试的效率。