单粒子锁定极端敏感器件的试验及对我国航天安全的警示

• 作者: 封国强 张振龙 韩建伟 马英起
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子锁定 锁定阈值 静态存储器 航天器
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 空间特殊环境效应
• 页码范围: 263-268
• 页数: 6页
• 分类号: TN306
• 字数: 5507字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2008.03.017

摘要

随着半导体特征工艺尺寸减小、集成度提高,静态存储器(SRAM)对单粒子锁定呈现出极其敏感的现象和趋势,为此国际航天界开展了大量的试验评估工作,剔除和杜绝了一些极端敏感器件在空间的应用.结合国内外空间应用背景,文章利用脉冲激光实验装置和重离子加速器,分别对三星公司新旧两种型号的4 M位SRAM芯片进行了单粒子锁定试验评估.试验测得两型号芯片的单粒子锁定阈值差异巨大,新型号芯片的锁定阈值低于1.5MeV·cm2/mg,而老型号芯片的锁定阈值高于39.6MeV·cm2/mg.这种对单粒子锁定极端敏感的芯片若应用于空间,将会发生0.008～0.04次/天的频繁锁定事件,极大地威胁航天器的安全和可靠.为应对这种单粒子锁定极端敏感的现象和趋势,提出了加强我国航天产品设计、元器件采购、筛选、试验等的规范、技术和条件的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩建伟	中国科学院空间科学与应用研究中心	90	549	14.0	18.0
2	张振龙	中国科学院空间科学与应用研究中心	35	275	10.0	15.0
3	封国强	中国科学院空间科学与应用研究中心	22	139	6.0	10.0
4	马英起	中国科学院空间科学与应用研究中心	12	69	5.0	8.0