脉冲激光模拟超大规模集成电路单粒子效应试验初探

• 作者: 刘淑芬 尚智 曹洲 曹海宁 杨世宇 田恺 薛玉雄 褚楠
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: Intel386EX 脉冲激光 单粒子效应 单粒子翻转 单粒子锁定
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 页码范围: 371-375
• 页数: 5页
• 分类号: TN406
• 字数: 2589字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2008.02.039

摘要

本文利用实验室的激光模拟单粒子效应试验系统,开展超大规模集成电路Intel386EX CPU单粒子效应的模拟试验研究,探索超大规模集成电路单粒子效应脉冲激光模拟试验方法.文中详细地介绍了Intel386EX CPU单粒子效应试验原理、试验方法、试验系统的软硬件组成以及试验取得的结论.试验研究表明,利用实验室的激光模拟系统可以开展超大规模集成电路单粒子效应试验研究,Intel386EX CPU具有较强的抗单粒子锁定能力.