基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
随着集成电路工艺的高速发展,特征尺寸越来越小,静电放电对CMOS器件可靠性的危害也日益增大,ESD保护电路设计已经成为IC设计中的一个重要部分.讨论了两种常见的CMOS集成电路电源系统ESD保护电路,分析了它们的电路结构、工作原理和存在的问题,进而提出了一种改进的电源动态侦测ESD保护电路.使用HSPICE仿真验证了该电路工作的正确性,并且在一款自主芯片中使用,ESD测试通过士3000 V.
推荐文章
一种CMOS新型ESD保护电路设计
静电放电(ESD)保护
栅极接地NMOS
抗静电
电流集边效应
低成本
CMOS集成电路中电源和地之间的ESD保护电路设计
互补型金属氧化物集成电路
静电放电
保护电路
电源和地
一种新型互补电容耦合ESD保护电路
静电放电
保护电路
互补式电容耦合电路
一种高性能ESD电源钳位电路设计
ESD
电源钳位
反馈
误触发
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 一种CMOS IC片上电源ESD保护电路
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 CMOS 静电放电 保护电路 电源系统
年,卷(期) 2008,(6) 所属期刊栏目 纳米固态及真空电子器件
研究方向 页码范围 1780-1782
页数 3页 分类号 TN402|TN432
字数 1894字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2008.06.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭立 中国科学技术大学电子科学与技术系 203 1655 20.0 30.0
2 白雪飞 中国科学技术大学电子科学与技术系 25 134 7.0 11.0
3 王怡飞 中国科学技术大学电子科学与技术系 3 11 2.0 3.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (19)
共引文献  (18)
参考文献  (7)
节点文献
引证文献  (4)
同被引文献  (3)
二级引证文献  (4)
1990(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1992(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1995(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1997(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1998(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1999(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2000(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2001(4)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(2)
2002(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2003(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2004(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2005(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2006(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2007(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2008(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2009(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2010(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2012(2)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(2)
2013(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2014(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2016(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2018(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
CMOS
静电放电
保护电路
电源系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
论文1v1指导