ZnS薄膜的电沉积及表征

• 作者: 程树英 翁晴
• 来源期刊: 福州大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: ZnS 薄膜 电沉积 XRD SEM AFM XPS
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: O484
• 字数: 1701字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-2243.2008.01.016

摘要

利用恒电位电沉积技术实现在 ITO 导电玻璃上沉积 ZnS 薄膜,用X射线粉末衍射、扫描电镜、原子力显微镜和X射线光电子能谱对制得的薄膜进行了研究.实验表明,用该方法制得的薄膜样品的主要成分是α-ZnS,薄膜表面均匀、致密和平整,平均粗糙度为 3.112 nm,颗粒的粒径大约为50～100 nm.该薄膜中Zn原子和S原子化合价分别为+2价和-2价,原子个数比接近于1:1,没有探测到单质元素(Zn或S)沉积.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程树英	福州大学食品安全分析与检测教育部重点实验室化学化工学院	96	443	11.0	17.0
5	翁晴	福州大学食品安全分析与检测教育部重点实验室化学化工学院	1	7	1.0	1.0