结构单元对双负材料电磁特性的影响

• 作者: 冯立新 杨永祥
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电子技术 双负材料 结构单元 谐振频率 介电常数 磁导率
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.9
• 字数: 2591字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2008.06.016

摘要

采用S参数提取法、结合HFSS仿真对双负材料电磁特性进行了分析研究,导出了S参数提取技术的相应计算公式.通过调节金属丝和金属谐振环单元的内外环间距、开口间距及覆铜厚度,分析结构单元的变化对双负材料谐振频率、介电常数及磁导率的影响.结果表明:双负材料的谐振频率随内外环间距的增大而迅速降低,随开口间距以及覆铜厚度的增大而缓慢增加.通过改变双负材料的结构单元可以实现对负介电常数和负磁导率频段的调控.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨永祥		7	13	2.0	3.0
2	冯立新		1	0	0.0	0.0