边界扫描技术在复杂电路缺陷检测中的应用

• 作者: 肖文平 陈粟宋
• 来源期刊: 现代表面贴装资讯
• 学科: 工学
• 关键词: IEEE1149 边界扫描 电路检测
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 54-56
• 页数: 3页
• 分类号: TN407

摘要

在我国的电子产品制造业，传统的顶针测试方法伴随着电路越来越复杂，元件密度目益加大而面临严峻的考验。利用边界扫描技术可以很好地解决进行电路功能与缺陷检测的问题，增加设备的可维护性。文章在介绍边界扫描技术的基础上，提出了一个基于BST技术的基本电路缺陷检测方案。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖文平		18	15	2.0	2.0
2	陈粟宋		17	70	5.0	8.0