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半导体测试分选编带机的简单系统工程分析与评价
半导体测试分选编带机的简单系统工程分析与评价
作者:
王晓东
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
半导体
测试分选
编带
系统工程
结构模型
摘要:
介绍了半导体测试分选编带机的技术指标要求,并运用系统工程方法建立了简单的系统结构模型,讨论了该设备的每个关键技术及实现方法.在与国外机型综合比较后,得出了可行性分析的结论.
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文献信息
篇名
半导体测试分选编带机的简单系统工程分析与评价
来源期刊
电子工业专用设备
学科
工学
关键词
半导体
测试分选
编带
系统工程
结构模型
年,卷(期)
2009,(6)
所属期刊栏目
本期专题(测试与设备)
研究方向
页码范围
24-28
页数
5页
分类号
TN606
字数
3563字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1004-4507.2009.06.007
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
王晓东
西安电子科技大学机电工程学院
1
6
1.0
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传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
半导体
测试分选
编带
系统工程
结构模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
主办单位:
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1004-4507
CN:
62-1077/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
邮发代号:
创刊时间:
1971
语种:
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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