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摘要:
以化学气相沉积法成长多晶金刚石薄膜时,薄膜的品质会受到成长时间、成长压力、反应气体比例、偏压与否及成核的机制等因素影响.研究采用微波电浆辅助化学气相沉积(MPECVD)法,以甲烷(CH4)和氢气(H2)作为反应气体原料,在P型(111)硅基板沉积多晶金刚石薄膜.典型沉积多晶金刚石薄膜的制程可分为四个阶段:抛蚀表面阶段、渗碳阶段、偏压增强成核(BEN)阶段及成长阶段.研究将成长阶段划分为两个阶段,第一阶段压力较低(成长Ⅰ阶段),第二阶段压力较高(成长Ⅱ阶段).结果表明:第一阶段可大大改善金刚石薄膜的品质,所获多晶金刚石薄膜的晶粒具有明确的颗粒边界、较低的碳化物或缺陷,电导率急剧降低,显现出本徵金刚石半绝缘的性质.可以认为金刚石薄膜品质的改善完全为低压成长所致.实验发现在成长Ⅰ阶段或成长Ⅱ阶段施加偏压时,只会降低多晶金刚石薄膜的品质.
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文献信息
篇名 两段成长法改善微波电浆辅助化学气相沉积多晶金刚石之品质
来源期刊 新型炭材料 学科 工学
关键词 多晶金刚石薄膜 微波电浆辅助化学气相沉积(MPECVD) 两段成长 偏压增强成核(BEN)
年,卷(期) 2009,(3) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 223-229
页数 7页 分类号 TB383|TQ127.1+1
字数 793字 语种 中文
DOI 10.1016/S1872-5805(08)60049-9
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李世鸿 大叶大学电机工程学系 5 17 3.0 4.0
2 张永平 大叶大学电机工程学系 4 14 3.0 3.0
3 叶忠信 建国科技大学电子工程系 3 10 2.0 3.0
7 汪岛军 国立云林科技大学工程科技研究所 3 10 2.0 3.0
8 黄柏仁 国立台湾科技大学电子工程系暨光电工程研究所 3 10 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
多晶金刚石薄膜
微波电浆辅助化学气相沉积(MPECVD)
两段成长
偏压增强成核(BEN)
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研究来源
研究分支
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新型炭材料
双月刊
1007-8827
14-1116/TQ
16开
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1985
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