掺Ag离子的纳米CdTe薄膜的结构和电性能研究

• 作者: 张保花 郭福强 陈惠敏
• 来源期刊: 河南大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: CdTe 薄膜 R.F.磁控溅射 掺杂
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 现代物理与材料科学
• 页码范围: 465-469
• 页数: 5页
• 分类号: O484.42
• 字数: 3087字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-4978.2009.05.006

摘要

采用射频(R.F.)磁控溅射在陶瓷(Al_2O_3)衬底上制备出了纳米晶CdTe 薄膜,常温下将薄膜样品浸泡到 AgNO_3 水溶液后,在真空380℃下退火60min获得Ag离子掺杂的样品. 利用X射线衍射(XRD)和场发射扫描电镜(FESEM)对掺杂前后薄膜的晶体结构、外貌形态进行了表征. 利用扫描电镜配备的能量色散谱仪(EDS)对薄膜化合物元素组成进行定量分析,并使用HMS-3000型霍耳效应测试测定薄膜电导等电学参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈惠敏	昌吉学院物理系	35	119	7.0	9.0
2	张保花	昌吉学院物理系	27	55	4.0	5.0
3	郭福强	昌吉学院物理系	21	49	4.0	5.0