半导体器件单粒子效应及标准研究

• 作者: 周俊 王宝友
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体器件 效应 单粒子 标准
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 电子元器件
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 字数: 3329字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-539X.2009.06.009

摘要

简要介绍半导体器件的单粒子效应及其机理,重点分析当前国外主要的单粒子效应试验方法标准,针对标准中辐照源及重离子射程的关键问题进行研究,并对如何制定我国的单粒子试验方法标准提出了建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宝友		23	64	4.0	7.0
2	周俊		10	14	2.0	3.0