集成电路老化温度与耗散功率、频率关系的研究

• 作者: 王鲁宁
• 来源期刊: 舰船电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路老化 温度 耗散功率 频率
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 可靠性技术
• 页码范围: 172-174
• 页数: 3页
• 分类号: TN43
• 字数: 3599字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1627-9730.2009.09.047

摘要

在集成电路的可靠性试验中,耗散功率随着集成电路技术发展而增长,这也是由于温度和集成电路频率作用的关系.因此,在老化环境中,耗散功率会加大对老化的影响.文章将重点讨论在老化环境中,温度和频率的调整对集成电路老化所产生的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王鲁宁		3	13	2.0	3.0