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摘要:
利用扫描白光干涉的测量方法,通过透射反射干涉的方式,对覆盖不同层数透明薄膜GaAs台阶结构进行透射测试,实现了对覆盖透明薄膜的GaAs台阶结构三维形貌还原方法的验证.该测量方法是在Pizeo的驱动下,通过改变测量臂和参考臂之间的光程差,使其不同高度的表面到达零光程差位置,并由CCD记录整个扫描过程中干涉条纹的变化状况,进而提取被测件的三维形貌信息.该测试技术具有非接触、无破损、高灵敏度和快速测量的特点.可为膜后形貌的三维重构提供借鉴方法.
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文献信息
篇名 基于白光透射反射干涉的形貌重构方法验证
来源期刊 测试技术学报 学科 物理学
关键词 扫描白光干涉 GaAs台阶结构 透射反射干涉 三维形貌还原 零光程差
年,卷(期) 2010,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 463-466
页数 分类号 O436.1
字数 1635字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-7449.2010.05.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘君 1 1 1.0 1.0
2 薛晨阳 3 5 2.0 2.0
3 丑修建 2 9 1.0 2.0
4 刘毅 1 1 1.0 1.0
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2011(1)
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研究主题发展历程
节点文献
扫描白光干涉
GaAs台阶结构
透射反射干涉
三维形貌还原
零光程差
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测试技术学报
双月刊
1671-7449
14-1301/TP
大16开
太原13号信箱
22-14
1986
chi
出版文献量(篇)
2837
总下载数(次)
7
总被引数(次)
13975
论文1v1指导