H2对航天用GaAs器件可靠性的影响

• 作者: 刘文宝 陈文卿
• 来源期刊: 质量与可靠性
• 关键词: GaAs器件 H2含量 可靠性 长期贮存 长寿命工作
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 实践经验
• 页码范围: 30-33
• 页数: 4页
• 语种: 中文

摘要

分析了H2对GaAs器件可靠性的影响,在此基础上通过理论计算提出为满足航天及其它特殊应用领域,密封GaAs器件长期贮存和长寿命工作不失效对H2含量的控制要求,最后给出了控制H2含量可行的方法和工艺.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘文宝		6	7	1.0	2.0
2	陈文卿		1	0	0.0	0.0